Наватарскае даследаванне выкарыстоўвае фемтасекундную рэнтгенаўскую крышталаграфію для характарыстыкі трохмернай дынамічнай структуры MOF

Крышталічныя сістэмы, якія складаюцца з невялікіх малекул будаўнічых блокаў, сталі перспектыўнымі матэрыяламі з рознымі прымяненнямі. Вельмі важна ахарактарызаваць не толькі іх статычную структуру, але і ператварэнне іх структур у адказ на знешнія раздражняльнікі. Фемтасекундная крышталаграфія з часовым дазволам можа даследаваць дынаміку структурных пераходаў у рэальным часе, але да гэтага часу гэта не было рэалізавана для хімічных рэакцый у небіялагічных крышталях.

У святле гэтага Hyotcherl Ihee з Карэйскага інстытута перадавых навук і тэхналогій і яго калегі паведамілі аб выкарыстанні метаду характарыстык паслядоўнай фемтасекунднай крышталаграфіі з часовым дазволам (TR-SFX) для вывучэння MOF-структур. TR-SFX - гэта звычайна выкарыстоўваная методыка для характарыстыкі структуры бялку, і аўтары ўжылі яе для характарыстыкі MOF, якія змяшчаюць Fe-парфірынавыя сайты і металічныя кластары гексацырконія.